Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Decoupling single nanowire mobilities limited by surface scattering and bulk impurity scattering
Año:2011

Áreas de investigación

Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
ISSN
0021-8979
Factor de impacto JCR
2,064
Información de impacto
Volumen
110
DOI
10.1063/1.3611032
Número de revista
3
Desde la página
0
Hasta la página
7
Mes
Ranking
33/116 PHYSICS, APPLIED (SCI)

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica