Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Decoupling single nanowire mobilities limited by surface scattering and bulk impurity scattering
Year:2011
Research Areas
Information
Abstract
International
Si
JCR
Si
Title
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
ISBN
0021-8979
Impact factor JCR
2,064
Impact info
Volume
110
10.1063/1.3611032
Journal number
3
From page
0
To page
7
Month
Ranking
33/116 PHYSICS, APPLIED (SCI)
Participants
  • Autor: d. r. khanal
  • Autor: a. x. levander
  • Autor: k. m. yu
  • Autor: z. liliental-weber
  • Autor: w. walukiewicz
  • Autor: j. grandal (UPM)
  • Autor: m. a. sanchez-garcia (UPM)
  • Autor: e. calleja (UPM)
  • Autor: j. wu
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2019 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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