Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Patentes:
Sistema de monitorización y control de procesos de tratamiento térmico superficial de materiales con láser mediante control borroso
Año:2011
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
Sistema de monitorización y control de procesos de tratamiento térmico superficial de materiales con láser mediante control borroso
Internacional
No
Estado
Concedida
Referencia Patente Prioritaria
En explotación
Si
Licenciatarios
Fecha solicitud
Titulares aparte de la UPM
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: J.A. Pérez
  • Autor: Carlos Luis Molpeceres Alvarez (UPM)
  • Autor: Jose Luis Ocaña Moreno (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Investigación en Ingeniería y Aplicaciones del Láser
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
  • Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial
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