Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
An atomic scale study on the effect of Sb during capping of MBE grown III-V semiconductor QDs
Year:2011
Research Areas
Information
Abstract
International
Si
JCR
Si
Title
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
ISBN
0268-1242
Impact factor JCR
1,323
Impact info
Volume
26
10.1088/0268-1242/26/6/064007
Journal number
6
From page
0
To page
11
Month
Ranking
37/67 PHYSICS, CONDENSED MATTER (SCI); 96/219 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY (SCI); 92/247 ENGINEERING, ELECTRICAL AND ELECTRONIC (SCI)
Participants
  • Autor: m. bozkurt
  • Autor: j. m. ulloa (UPM)
  • Autor: p. m. koenraad
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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