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Descripción
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| Se diseña un sistema para el reconocimiento automatizado y cuantificación de menas metálicas por medio de visión artificial a través de microscopia óptica de reflexión | |
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Internacional
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Si |
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Estado
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Solicitada |
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Referencia Patente Prioritaria
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En explotación
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No |
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Licenciatarios
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Fecha solicitud
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Titulares aparte de la UPM
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AITEMIN (Juan Carlos Catalina y Fernando Segundo) |