Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Conferencias:
Principales Desarrollos y Desafíos Metrológicos en el Ámbito de la Micro/Nano Fabricación. Algunas Aplicaciones en el Centro Láser de la UPM
Año:2011
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
Principales Desarrollos y Desafíos Metrológicos en el Ámbito de la Micro/Nano Fabricación. Algunas Aplicaciones en el Centro Láser de la UPM
Internacional
No
ISSN o ISBN
706-11-003-6
Entidad relacionada
3er seminario intercongresos metrología científica 2011Mediciones en Nanotecnologías
Nacionalidad Entidad
Sin nacionalidad
Lugar del congreso
Centro Español de Metrología
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Jose Luis Ocaña Moreno (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Investigación en Ingeniería y Aplicaciones del Láser
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
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