Artículos en revistas:
Quantifying pulsed laser induced damage to grapheme
Año:2011
Áreas de investigación
- Ingenierías
Datos
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Descripción
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| Relacionado con línea de investigación del GDS del ISOM ver http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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Applied Physics Letters |
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ISSN
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0003-6951 |
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Factor de impacto JCR
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3,82 |
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Información de impacto
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Volumen
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DOI
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Número de revista
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99 |
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Desde la página
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211909 |
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Hasta la página
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211909 (3) |
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Mes
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SIN MES |
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Ranking
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Ver publicación en Archivo digital upm
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
- Autor: M. CURRIE
- Autor: J. D. CALDWELL
- Autor: F.J. BEZARES
- Autor: J. ROBINSON
- Autor: T. ANDERSON
- Autor: H. CHUN
- Autor: Marko Jak Tadjer . UPM
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica