Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Self-validating technique for the measurement of the linewidth enhancement factor in semiconductor lasers
Año:2012
Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
A new method for measuring the linewidth enhancement factor (?-parameter) of semiconductor lasers is proposed and discussed. The method itself provides an estimation of the measurement error, thus self-validating the entire procedure. The ?-parameter is obtained from the temporal profile and the instantaneous frequency (chirp) of the pulses generated by gain switching. The time resolved chirp is measured with a polarization based optical differentiator. The accuracy of the obtained values of the ?-parameter is estimated from the comparison between the directly measured pulse spectrum and the spectrum reconstructed from the chirp and the temporal profile of the pulse. The method is applied to a VCSEL and to a DFB laser emitting around 1550 nm at different temperatures, obtaining a measurement error lower than ± 8%.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Optics Express
ISSN
1094-4087
Factor de impacto JCR
3,749
Información de impacto
Datos JCR del año 2010
Volumen
DOI
Número de revista
Desde la página
4979
Hasta la página
4987
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Fotónica Aplicada
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
  • Departamento: Tecnología Fotónica y Bioingeniería
  • Departamento: Física e Instalaciones Aplicadas a la Edificación, al Medio Ambiente y al Urbanismo