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Descripción
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| En este capítulo de libro de 54 páginas, se analizan y aplican algunas de las técnica de speckle más relevantes para la caractrización de propiedades físicas. En concreto se analizan problemas de volumen y superficiales. (El autor de este capítulo fue expresamente invitado a escribirlo). | |
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Internacional
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Si |
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DOI
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Edición del Libro
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Editorial del Libro
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Nova Publishers (USA) |
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ISBN
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978-1-61209-347-5 |
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Serie
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Título del Libro
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Interferometry Principles and Applications |
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Desde página
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1 |
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Hasta página
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