Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Ionoluminescence as Sensor of Structural Disorder in Crystalline SiO2:Determination of Amorphization Threshold by Swift Heavy Ions
Año:2012
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
Ionoluminescence (IL) has been used in this work as a sensitive tool to probe the microscopic electronic processes and structural changes produced on quartz by the irradiation with swift heavy ions. The IL yields have been measured as a function of irradiation fluence and electronic stopping power. The results are consistent with the assignment of the 2.7 eV (460 nm) band to the recombination of self-trapped excitons at the damaged regions in the irradiated material. Moreover, it was possible to determine the threshold for amorphization by a single ion impact, as ?1:7 keV/nm, which agrees well with the results of previous studies
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Applied Physics Express
ISSN
1882-0786
Factor de impacto JCR
Información de impacto
Volumen
5
DOI
10.1143/APEX.5.011101
Número de revista
Desde la página
011101
Hasta la página
011101
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Ovidio Yordanis Peña Rodriguez UPM
  • Autor: D. Jiménez-Rey Centro de Microana¿ lisis de Materiales
  • Autor: J. Manzano-Santamaría EURATOM CIEMAT
  • Autor: J. Olivares Centro de Microana¿ lisis de Materiales
  • Autor: A. Muñoz Centro de Microanalisis de Materiales
  • Autor: Antonio Juan Rivera de Mena UPM
  • Autor: F. Agulló-López Centro de Microana¿ lisis de Materiales
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Fusión Nuclear Inercial y Tecnología de fusión
  • Departamento: Ingeniería Nuclear
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Fusión Nuclear