Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Ion-beam damage induced in SiO2: Excitonic mechanisms under heavy electronic excitation
Año:2012
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
The Centro de Micro-Análisis de Materiales (CMAM) in the Universidad Autónoma de Madrid is carrying out an extensive research program on the processes induced by high energy heavy mass ions (SHI) on dielectric materials and their photonic applications [1?21]. A significant part of this activity constitutes a relevant contribution to the scientific program associated to the TECHNOFUSION project. It is performed in collaboration with the Instituto de Fusion Nuclear at the UPM, the CIEMAT, the Departamento de Física de Materiales at UAM and several other national institutions (INTA) and international laboratories (GANIL, France), Legnaro Italy, Grenoble?. The program has led to a large number of publications in reputed international journals.
Internacional
Si
Nombre congreso
Second Workshop on Fusion Technologies and the Contribution of TECHNOFUSIÓN 2012
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Madrid
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-84-695-6616-9
DOI
Fecha inicio congreso
18/07/2012
Fecha fin congreso
19/07/2012
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Título de las actas
2nd Workshop on Fusion Technologies and the Contribution of TECHNOFUSIÓN
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: F. Agulló-López Centro de Microanálisis de Materiales
  • Autor: J. Olivares Centro de Microanálisis de Materiales
  • Autor: Antonio Juan Rivera de Mena UPM
  • Autor: Ovidio Yordanis Peña Rodriguez UPM
  • Autor: J. Manzano-Santamaría Centro de Microanálisis de Materiales
  • Autor: M. Crespillo Centro de Microanálisis de Materiales
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Fusión Nuclear Inercial y Tecnología de fusión
  • Departamento: Ingeniería Nuclear
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Fusión Nuclear