Memorias de investigación
Capítulo de libro:
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits.
Año:2012

Áreas de investigación
  • Industria electrónica

Datos
Descripción
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits.
Internacional
Si
DOI
Edición del Libro
Editorial del Libro
Wiley
ISBN
978-0-470-90005-5
Serie
Título del Libro
Advanced Circuits for Emerging Technologies
Desde página
483
Hasta página
507

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica