Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Almost rejectionless sampling from Nakagami-m distributions (m > 1)
Año:2012
Áreas de investigación
  • Estadística,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
Descripción
Método extremadamente eficiente para generar variables aleatorias de Nakagami (utilizadas para modelar el desvanecimiento en canales de comunicaciones móviles) basado en "rejection sampling".
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IET Electronics Letters
ISSN
0013-5194
Factor de impacto JCR
1,04
Información de impacto
Volumen
48
DOI
10.1049/el.2012.3513
Número de revista
24
Desde la página
1559
Hasta la página
1561
Mes
NOVIEMBRE
Ranking
ISI JCR 2012 (Cat.: ENG., ELECTRICAL & ELECTRONIC): 128/242
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: David Luengo Garcia (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Ingeniería de Circuitos y Sistemas
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