Descripción
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Electrical and surface characterization of wet-etched InAlN/AlN/GaN HEMTs | |
Internacional
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Si |
Nombre congreso
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Electronic Materials Conference (EMC2012) |
Tipo de participación
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960 |
Lugar del congreso
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University Park, Pennsylvania (USA) |
Revisores
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Si |
ISBN o ISSN
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000-0-0000-0000-0 |
DOI
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Fecha inicio congreso
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20/06/2012 |
Fecha fin congreso
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22/06/2012 |
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Título de las actas
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Actas del EMC2012 |