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Descripción
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| Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
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ISSN
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0021-8979 |
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Factor de impacto JCR
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2,168 |
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Información de impacto
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Volumen
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113 |
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DOI
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http://dx.doi.org/10.1063/1.4805054 |
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Número de revista
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18 |
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Ranking
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