Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Estimación del error en la medida del factor de ensanchamiento de línea en láseres de semiconductor
Año:2013
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
En el presente trabajo se propone un método para la medida y la estimación del error de la misma en la caracterización del factor de ensanchamiento de línea (parámetro ?) de los láseres de semiconductor. La técnica propuesta se basa en el cálculo del parámetro ? a partir de la medida de la intensidad y de la frecuencia instantánea de los pulsos generados por un laser de semiconductor conmutado en ganancia. El error de medida se estima mediante la comparación entre el espectro medido y el reconstruido utilizando los perfiles temporales de amplitud y fase de los pulsos generados. El método se ha aplicado a un laser DFB, obteniendo un error de medida menor del 5 %.
Internacional
No
Nombre congreso
VIII Reunión Española de Optoelectrónica OPTOEL 2013
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Alcalá de Henares, España
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-84-88754-21-9
DOI
Fecha inicio congreso
10/07/2013
Fecha fin congreso
12/07/2013
Desde la página
213
Hasta la página
218
Título de las actas
VIII Reunión Española de Optoelectrónica OPTOEL 2013
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Fotónica Aplicada
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
  • Departamento: Tecnología Fotónica y Bioingeniería