Memorias de investigación
Conferencias:
DCIS 2013 Special Session. Variability and Reliability
Año:2013
Áreas de investigación
  • Diseño microelectrónico,
  • Modelado eléctrico de circuitos integrados,
  • Modelado térmico de circuitos integrados
Datos
Descripción
A great challenge for future information technologies is building reliable systems on top of unreliable components. Parameters of modern and future technology devices are affected by severe levels of process variability and devices will degrade and even fail during the normal lifeDme of the chip due to aging mechanisms. These extreme levels of variability are caused by the high device miniaturizaDon and the random placement of individual atoms. Variability is considered a ?red brick? by the InternaDonal Technology Roadmap for Semiconductors. The session is devoted to this topic presenDng research experiences from the Spanish Network on Variability called VARIABLES. In this session a talk entlited "Modeling sub-threshold slope and DIBL mismatch of sub-22nm FinFet" was presented. Se adjunta un fichero con el programa donde se destaca la sesión especial del DCIS 2013 y el contenido de la ponencia.
Internacional
Si
ISSN o ISBN
978-84-8081-401-0
Entidad relacionada
DCIS Conference
Nacionalidad Entidad
Sin nacionalidad
Lugar del congreso
San Sebastián, España
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica