Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Software:
OOPS! - Ontology Pitfall Scanner
Year:2013
Research Areas
Information
Abstract
Herramienta orientada al a validación de ontologías. En concreto OOPS! permite analizar ontologías para detectar algunos de los errores que se suelen dar durante el desarrollo de ontologías. En este sentido OOPS! realiza un diagnóstico de la ontología de manera independiente al dominio o los requisitos modelados en la misma. A partir de dicho diagnóstico OOPS! genera una serie de notificaciones indicando en qué elementos se podrían estar cometiendo errores.
International
Si
under exploitation
No
Registration Date
20/12/2012
Registry number
M-009445/2012
Owners
Participants
  • Inventor Contacto: Asuncion de Maria Gomez Perez (UPM)
  • Inventor: Maria Poveda Villalon (UPM)
  • Inventor: M. Carmen Suarez de Figueroa Baonza (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Ontology Engineering Group
  • Departamento: Inteligencia Artificial
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)