Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Dual-Band Matching Properties of the C-Section All-Pass Network
Año:2013
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
ISSN
0018-9480
Factor de impacto JCR
1,853
Información de impacto
Volumen
61
DOI
10.1109/TMTT.2012.2231876
Número de revista
2
Desde la página
827
Hasta la página
832
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: juan e. page (UPM)
  • Autor: jaime esteban (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Electromagnetismo y Teoría de Circuitos
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