Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Electrical characterization of Schottky contacts to n-MgZnO films
Año:2013

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
THIN SOLID FILMS
ISSN
0040-6090
Factor de impacto JCR
1,89
Información de impacto
Volumen
548
DOI
10.1016/j.tsf.2013.09.007
Número de revista
Desde la página
539
Hasta la página
545
Mes
Ranking
0

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes
  • Autor: g. tabares UPM
  • Autor: s. k. mohanta
  • Autor: a. hierro UPM
  • Autor: a. nakamura
  • Autor: a. guzman UPM
  • Autor: e. munoz UPM
  • Autor: j. temmyo

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Ingeniería Electrónica