Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Investigation of III-V Nanowires by Plan-View Transmission Electron Microscopy: InN Case Study
Año:2014

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
ISSN
1431-9276
Factor de impacto JCR
2,495
Información de impacto
Volumen
20
DOI
10.1017/S1431927614013038
Número de revista
5
Desde la página
1471
Hasta la página
1478
Mes
Ranking
0
Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica