Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Influence of lateral and in- depth metal segregation on the patterning of ohmic contacts for GaN-based devices
Year:2014
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS
ISBN
0022-3727
Impact factor JCR
2,528
Impact info
Volume
47
10.1088/0022-3727/47/18/185302
Journal number
18
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0
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10
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: m. f. romero (UPM)
  • Autor: a. redondo-cubero
  • Autor: e. munoz (UPM)
  • Autor: l. vazquez
  • Autor: l. c. alves
  • Autor: v. corregidor
  • Autor: a. pantellini
  • Autor: c. lanzieri
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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