Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Project:
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
Year:2014
Research Areas
  • Electronic technology and of the communications,
  • Microelectronics,
  • Nanoelectronics
Information
Abstract
Los circuitos integrados CMOS fabricados con tecnologías nanométricas se encuentran sometidos a numerosas incertidumbres debidas a efectos de segundo orden que antes se podían despreciar pero que ahora limitan las prestaciones finales del circuito y el rendimiento de fabricación. Tal es el caso de variaciones de proceso, o variaciones en condiciones de funcionamiento (caídas de tensión, puntos calientes, fallos por radiación). En este proyecto se proponen técnicas a nivel de circuito para conseguir diseños más robustos al ser capaces de tolerar variaciones PVT y radiación. En concreto se proponen dos objetivos fundamentales: - Diseñar, simular y fabricar sensores para la medida de variaciones PVT que se puedan integrar en una red on-chip de monitorización de variaciones. Se plantean sensores de camino crítico (con un doble objetivo, medir variaciones de proceso y envejecimiento), sensores de consumo estático y sensores de VDD. Todos estos sensores han de ser pequeños, fácilmente integrables en CMOS, con bajo consumo y orientados a los requisitos de la monitorización de las variaciones PVT. Se integrarán en un circuito demostrador de complejidad media. - Estudiar y proporcionar mecanismos de tolerancia a radiación en circuitos digitales mediante el diseño e implementación de una biblioteca de células estándar básicas endurecidas frente a radiación. Se implementarán técnicas de endurecimiento a nivel físico (trazado) y lógico en un conjunto de puertas básicas y flip-flops suficiente para satisfacer los requisitos de las herramientas de síntesis. Se realizará un estudio en profundidad del compromiso área-prestaciones-grado de tolerancia a radiación. Finalmente, se propone el diseño de dos sensores, para envejecimiento (por camino crítico) y temperatura, utilizando las técnicas de tolerancia a radiación realizadas. Estos sensores se podrán integrar en aplicaciones futuras en entornos sometidos a alta radiación, donde la monitorización remota juega un papel determinante.
International
No
Project type
Proyectos y convenios en convocatorias públicas competitivas
Company
Ministerio de Economía y Competitividad
Entity Nationality
ESPAÑA
Entity size
Desconocido
Granting date
01/01/2013
Participants
  • Director: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
  • Participante: Pablo Royer Del Barrio (UPM)
  • Participante: Carlos Alberto Lopez Barrio (UPM)
  • Participante: Pablo Ituero Herrero (UPM)
  • Participante: Javier Agustin Saenz (UPM)
  • Participante: Fernando Garcia Redondo (UPM)
  • Participante: Hernan Aparicio Cerqueira (UPM)
  • Participante: Carlos Gil Soriano (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)