Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Communications at congresses:
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
Year:2015
Research Areas
  • Verification of digital integrate circuits
Information
Abstract
International
Si
Congress
NANOARCH 2015
970
Place
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
Start Date
End Date
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Participants
  • Autor: Pablo Royer Del Barrio (UPM)
  • Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
  • Autor: Fernando Garcia Redondo (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)