Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
Año:2015
Áreas de investigación
  • Verificación de circuitos integrados digitales
Datos
Descripción
Internacional
Si
Nombre congreso
NANOARCH 2015
Tipo de participación
970
Lugar del congreso
Revisores
Si
ISBN o ISSN
DOI
Fecha inicio congreso
Fecha fin congreso
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Título de las actas
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Pablo Royer Del Barrio (UPM)
  • Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
  • Autor: Fernando Garcia Redondo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica
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