Descripción
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Visita guiada al Taboratorio de Caracterización Optica de Materiales: Obtención y análisis comparado de las curvas espectrales de diferentes fuentes luminosas(3 horas) | |
Internacional
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No |
Nombre congreso
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VII Semana de la Ciencia Madrid 2007 |
Entidad organizadora
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DGUI-CAM UPM |
Nacionalidad Entidad
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ETIOPIA |
Lugar/Ciudad de impartición
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Escuela Universitaria de Ingeniería Técnica Industrial |
Fecha inicio
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13/11/2007 |
Fecha fin
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14/11/2007 |