Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Distinguishing Cubic and Hexagonal phases within InGaN/GaN micro-structures using Electron Energy Loss Spectroscopy
Año:2015
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
Descripción
Relacionado con línea de investigación del GDS del ISOM
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Journal of Microscopy
ISSN
0022-2720
Factor de impacto JCR
2,15
Información de impacto
Volumen
262(2)
DOI
10.1111/jmi.12285
Número de revista
Desde la página
167
Hasta la página
170
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: I. Griffiths
  • Autor: Steven Albert . (UPM)
  • Autor: Ana Mª Bengoechea Encabo (UPM)
  • Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: D. Cherns
  • Autor: T. Schimpke
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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