Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Design and Characterization of a Built-In CMOS TID Smart Sensor
Año:2015

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
ISSN
0018-9499
Factor de impacto JCR
1,455
Información de impacto
Volumen
62
DOI
10.1109/TNS.2015.2404532
Número de revista
2
Desde la página
443
Hasta la página
450
Mes
Ranking
0

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Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica