Descripción
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Select Point Pattern Models Based on Minimum Contrast, AIC and Goodness of Fit | |
Internacional
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Si |
Entidad
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R Foundation for Statistical Computing |
Lugar
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Viena, Austria |
Páginas
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12 |
Referencia/URL
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https://www.researchgate.net/publication/280096686 |
Tipo de publicación
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Publicado en repositorios de internet |