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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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19TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRON DYNAMICS IN SEMICONDUCTORS, OPTOELECTRONICS AND NANOSTRUCTURES (EDISON'' 19) |
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ISSN
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1742-6588 |
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Factor de impacto JCR
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Información de impacto
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Volumen
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647 |
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DOI
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10.1088/1742-6596/647/1/012038 |
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Número de revista
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