Artículos en revistas:
Amorphous/crystalline silicon interface characterization by capacitance and conductance measurements
Amorphous/crystalline silicon interface characterization by capacitance and conductance measurements
Año:2015
Áreas de investigación
Datos
|
Descripción
|
|
|---|---|
| 0 | |
|
Internacional
|
Si |
|
JCR del ISI
|
Si |
|
Título de la revista
|
PROCEEDINGS OF THE 2015 10TH SPANISH CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES (CDE) |
|
ISSN
|
2163-4971 |
|
Factor de impacto JCR
|
0 |
|
Información de impacto
|
|
|
Volumen
|
|
|
DOI
|
|
|
Número de revista
|
|
|
Desde la página
|
37 |
|
Hasta la página
|
+ |
|
Mes
|
|
|
Ranking
|
0 |
Participantes
- Autor: r. garcia-hernansanz (UPM)
- Autor: d. montero-alvarez
- Autor: a. del prado (UPM)
- Autor: g. gonzalez-diaz (UPM)
- Autor: j. olea
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Departamento: Ingeniería y Gestión Forestal y Ambiental
S2i 2022 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)