Artículos en revistas:
Amorphous/crystalline silicon interface characterization by capacitance and conductance measurements
Amorphous/crystalline silicon interface characterization by capacitance and conductance measurements
Año:2015
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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PROCEEDINGS OF THE 2015 10TH SPANISH CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES (CDE) |
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ISSN
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2163-4971 |
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Factor de impacto JCR
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0 |
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Información de impacto
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Volumen
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DOI
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Número de revista
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Ranking
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Participantes
- Autor: r. garcia-hernansanz (UPM)
- Autor: d. montero-alvarez
- Autor: a. del prado (UPM)
- Autor: g. gonzalez-diaz (UPM)
- Autor: j. olea
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