Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Amorphous/crystalline silicon interface characterization by capacitance and conductance measurements
Año:2015
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
PROCEEDINGS OF THE 2015 10TH SPANISH CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES (CDE)
ISSN
2163-4971
Factor de impacto JCR
0
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Volumen
DOI
Número de revista
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37
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Mes
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Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: r. garcia-hernansanz (UPM)
  • Autor: d. montero-alvarez
  • Autor: a. del prado (UPM)
  • Autor: g. gonzalez-diaz (UPM)
  • Autor: j. olea
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Ingeniería y Gestión Forestal y Ambiental
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