Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Distinguishing cubic and hexagonal phases within InGaN/GaN microstructures using electron energy loss spectroscopy
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
JOURNAL OF MICROSCOPY
ISSN
0022-2720
Factor de impacto JCR
2,331
Información de impacto
Volumen
262
DOI
10.1111/jmi.12285
Número de revista
2
Desde la página
167
Hasta la página
170
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: s. albert UPM
  • Autor: i. j. griffiths
  • Autor: a. bengoechea-encabo UPM
  • Autor: d. cherns
  • Autor: m. angel sanchez UPM
  • Autor: e. calleja UPM
  • Autor: t. schimpke
  • Autor: m. strassburg
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica