Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Morphology of SiO2 films as a key factor in alignment of liquid crystals with negative dielectric anisotropy
Year:2016
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
BEILSTEIN JOURNAL OF NANOTECHNOLOGY
ISBN
2190-4286
Impact factor JCR
2,67
Impact info
Volume
7
10.3762/bjnano.7.167
Journal number
From page
1743
To page
1748
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: eva oton (UPM)
  • Autor: volodymyr tkachenko
  • Autor: jose manuel oton (UPM)
  • Autor: antigone marino
  • Autor: noureddine bennis
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Fotónica Aplicada
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
  • Departamento: Tecnología Fotónica y Bioingeniería
S2i 2019 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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