Memorias de investigación
Otras publicaciones:
Analysis of capping with GaAsSbN thin layers in (un)coupled InAs/GaAs multi quantum dot layers for enhanced solar cells
Año:2016
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
European Microscopy Congress 2016: Proceedings (ISBN: 9783527808465)
Internacional
Si
Entidad
Lugar
Páginas
912-913
Referencia/URL
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9783527808465
Tipo de publicación
Conference Proceeding
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ciencia de Materiales
  • Departamento: Ingeniería Electrónica