Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Topological Sensitivity for Solving Inverse Multiple Scattering Problems in Three-dimensional Electromagnetism. Part I: One Step Method
Year:2017
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
SIAM JOURNAL ON IMAGING SCIENCES
ISBN
1936-4954
Impact factor JCR
2,687
Impact info
Volume
10
10.1137/17M1113850
Journal number
3
From page
1291
To page
1321
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: maria-luisa rapun (UPM)
  • Autor: frederique le louer
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Dinámica y estabilidad no lineal en ingeniería aeroespacial
  • Departamento: Matemática Aplicada a la Ingeniería Aeroespacial
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