Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Quantitative analysis of the interplay between InAs quantum dots and wetting layer during the GaAs capping process
Year:2017
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
NANOTECHNOLOGY
ISBN
0957-4484
Impact factor JCR
3,573
Impact info
Volume
28
10.1088/1361-6528/aa83e2
Journal number
42
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0
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10
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: d. gonzalez
  • Autor: a. gonzalo (UPM)
  • Autor: v. braza
  • Autor: a. guzman (UPM)
  • Autor: a. hierro (UPM)
  • Autor: j. m. ulloa (UPM)
  • Autor: a. d. utrilla
  • Autor: d. f. reyes
  • Autor: t. ben
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ciencia de Materiales
S2i 2019 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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