Memorias de investigación
Conferencias:
Using MIS structures to probe bulk traps: the case of ZnO
Año:2017
Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Relacionado con líneas de investigación del GDS ISOM
Internacional
Si
ISSN o ISBN
0000000000000
Entidad relacionada
17th conference on Defects-Recognition, Imaging and physics in Semiconductors-DRIP XVII,
Nacionalidad Entidad
Sin nacionalidad
Lugar del congreso
Valladolid, Octubre 2017.
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología