Conferencias:
Using MIS structures to probe bulk traps: the case of ZnO
Using MIS structures to probe bulk traps: the case of ZnO
Año:2017
Áreas de investigación
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Ingenierías, -
Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
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Descripción
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| Relacionado con líneas de investigación del GDS ISOM | |
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Internacional
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Si |
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ISSN o ISBN
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0000000000000 |
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Entidad relacionada
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17th conference on Defects-Recognition, Imaging and physics in Semiconductors-DRIP XVII, |
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Nacionalidad Entidad
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Sin nacionalidad |
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Lugar del congreso
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Valladolid, Octubre 2017. |
Participantes
- Autor: Adrian Hierro Cano (UPM)
- Autor: Alejandro Kurtz De Griño (UPM)
- Autor: J.M Chauveau
- Autor: Elias Muñoz Merino (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Departamento: Ingeniería Electrónica
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
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