Conferences:
Using MIS structures to probe bulk traps: the case of ZnO
Using MIS structures to probe bulk traps: the case of ZnO
Year:2017
Research Areas
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Engineering, -
Electronic technology and of the communications
Information
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Abstract
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| Relacionado con líneas de investigación del GDS ISOM | |
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International
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Si |
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0000000000000 |
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Entity
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17th conference on Defects-Recognition, Imaging and physics in Semiconductors-DRIP XVII, |
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Entity Nationality
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Sin nacionalidad |
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Place
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Valladolid, Octubre 2017. |
Participants
- Autor: Adrian Hierro Cano (UPM)
- Autor: Alejandro Kurtz De Griño (UPM)
- Autor: J.M Chauveau
- Autor: Elias Muñoz Merino (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Departamento: Ingeniería Electrónica
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
S2i 2021 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)