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Descripción
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| Los circuitos fabricados con tecnologías nanométricas se encuentran sometidos a una gran variabilidiad tanto estática (proceso) como dinámica (temperatura, tension y envejecimiento). Para que aumente la fiabilidad de los circuitos, los diseñadores se ven obligados a implementar mecanismos que faciliten la convivencia con esta variabilidad. En este proyecto se propone en primer lugar el diseño y la implementacion de sensores robustos para utilizar en redes de monitorización de variabilidad. Se plantea, además, que los sensores se diseñen tolerantes a envejecimiento y a radiación, dos variables que afectan de forma significativa a las prestaciones de los circuitos electrónicos nanométricos, incluso a nivel de tierra. Para poder validar los sensores realizados antes de su fabricación, se va a desarrollar un entorno de simulación complejo que permita tratar las tres facetas abordadas en el proyecto, variabilidad, envejecimiento y radiación, de forma sistemática y eficaz. Por otro lado, existe un lado positivo asociado a la variabilidad: hay sistemas que requieren una componente de aleatoriedad que pueden obtenerse de la variabilidad que sufre el mismo circuito. Esto sucede con frecuencia en sistemas de autenticación o de seguridad. Se propone, por lo tanto, realizar diseños para dos circuitos básicos en este tipo de sistemas: PUF (Physiscally Unclonable Functions) y RNGs (Random Number Generators) utilizando para ello sensores de variabilidad. Finalmente, se explorará la utilidad de dispositivos emergentes aprovechando la experiencia del grupo investigador en el modelado y simulacion de memristores. En este sentido se da un paso más allá y se propone la utilización este tipo de dispositivos emergentes en la implementación de algún sensor de variabilidad. | |
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Internacional
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No |
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Tipo de proyecto
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Proyectos y convenios en convocatorias públicas competitivas |
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Entidad financiadora
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Ministerio de Economía y Competitividad |
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Nacionalidad Entidad
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ESPAÑA |
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Tamaño de la entidad
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Gran Empresa (>250) |
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Fecha concesión
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01/01/2013 |