Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
On the Design and Analysis of Reliable RRAM-CMOS Hybrid Circuits
Year:2017
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY
ISBN
1536-125X
Impact factor JCR
1,702
Impact info
Volume
16
10.1109/TNANO.2017.2697311
Journal number
3
From page
514
To page
522
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: fernando garcia-redondo (UPM)
  • Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
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