Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
On the Design and Analysis of Reliable RRAM-CMOS Hybrid Circuits
Año:2017
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY
ISSN
1536-125X
Factor de impacto JCR
1,702
Información de impacto
Volumen
16
DOI
10.1109/TNANO.2017.2697311
Número de revista
3
Desde la página
514
Hasta la página
522
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: fernando garcia-redondo (UPM)
  • Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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