Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Communications at congresses:
Effect of thin GaAs(SbN) capping layers on (un)coupled InAs/GaAs multi-quantum dot layers for enhanced solar cells
Year:2017
Research Areas
  • Engineering,
  • Electronic technology and of the communications
Information
Abstract
Relacionado con lineas de investigación del GDS ISOM
International
Si
Congress
The 17th conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVII) will be held in Valladolid, Spain, October 8-12, 2017.
960
Place
Valladolid
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
0000000000000
Start Date
08/10/2017
End Date
12/10/2017
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3
Proceedings
Participants
  • Autor: D.F. Reyes
  • Autor: V. Braza
  • Autor: T. Ben
  • Autor: D. González
  • Autor: Antonio David Utrilla Lomas (UPM)
  • Autor: Alicia Gonzalo Martin (UPM)
  • Autor: Jose Maria Ulloa Herrero (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Departamento: Ciencia de Materiales
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)