Descripción
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Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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MICROELECTRONICS RELIABILITY |
ISSN
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0026-2714 |
Factor de impacto JCR
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1,371 |
Información de impacto
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Volumen
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81 |
DOI
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10.1016/j.microrel.2017.12.018 |
Número de revista
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Desde la página
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95 |
Hasta la página
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100 |
Mes
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Ranking
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