Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Lifetime of electret microphones by thermal degradation analysis via electroacoustic measurements
Year:2018
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISBN
0026-2714
Impact factor JCR
1,371
Impact info
Volume
81
10.1016/j.microrel.2017.12.018
Journal number
From page
95
To page
100
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: Eduardo Nogueira Diaz (UPM)
  • Autor: juan sancho gil (UPM)
  • Autor: jose luis sanchez bote (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Grupo de Investigación: Integración de Sistemas e Instrumentos (ISI)
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
  • Departamento: Teoría de la Señal y Comunicaciones (Provisional)
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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