Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements
Year:2017
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
MANUFACTURING ENGINEERING SOCIETY INTERNATIONAL CONFERENCE 2017 (MESIC 2017)
ISBN
2351-9789
Impact factor JCR
0
Impact info
Volume
13
10.1016/j.promfg.2017.09.042
Journal number
From page
442
To page
449
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: m. berzal (UPM)
  • Autor: e. gomez (UPM)
  • Autor: j. caja (UPM)
  • Autor: c. barajas (UPM)
  • Autor: j. de vicente (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Física Aplicada e Ingeniería de Materiales
S2i 2019 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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