Memorias de investigación
Artículos en revistas:
A low power RFID based energy harvesting temperature resilient CMOS-only reference voltage
Año:2019

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL
ISSN
0167-9260
Factor de impacto JCR
0,906
Información de impacto
Volumen
67
DOI
10.1016/j.vlsi.2019.01.014
Número de revista
Desde la página
155
Hasta la página
161
Mes
Ranking
0
Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica