Descripción
|
|
---|---|
Se halla la descomposición wavelet de una imagen, se consideran diferentes estadísticos con los que se pueden clasificar imágenes | |
Internacional
|
Si |
Nombre congreso
|
45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society |
Tipo de participación
|
960 |
Lugar del congreso
|
Lisboa, Portugal |
Revisores
|
Si |
ISBN o ISSN
|
2577-1647 |
DOI
|
10.1109/IECON.2019.8927296 |
Fecha inicio congreso
|
14/10/2019 |
Fecha fin congreso
|
17/10/2019 |
Desde la página
|
5419 |
Hasta la página
|
5425 |
Título de las actas
|
2019 IEEE 28th InternationalSymposium on Industrial Electronics |