Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Patentes:
Método para obtener puntas sensoras de microscopía de fuerza atómica funcionalizadas mediante silanización por vapor activado, y las puntas obtenidas por dicho método.
Año:2019
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Un método para obtener una punta sensora de microscopia de fuerza atómica funcionalizada, caracterizado porque la funcionalización tiene lugar mediante un proceso de silanización por vapor activado que comprende: a) evaporar un compuesto organometálico que contiene al menos un átomo de silicio y al menos un grupo funcional seleccionado entre amino, hidroxilo, carboxilo y sulfidrilo; b) activar el vapor del compuesto organometálico de la etapa a) mediante calentamiento; y c) hacer incidir el vapor activado de la etapa b) en una punta sensora para microscopia de fuerza atómica para depositar una lámina del compuesto organometálico sobre dicha punta sensora; donde las etapas b) y c) tienen lugar de forma consecutiva. Así como la punta sensora funcionalizada obtenida por dicho método.
Internacional
No
Estado
Concedida
Referencia Patente Prioritaria
P201830777
En explotación
Si
Licenciatarios
SILK BIOMED SL;
Fecha solicitud
27/07/2018
Titulares aparte de la UPM
Participantes
  • Inventor: Gustavo Victor Guinea Tortuero (UPM)
  • Inventor: Rafael Daza Garcia (UPM)
  • Inventor: Luis Colchero . (UPM)
  • Inventor Contacto: Jose Perez Rigueiro (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Grupo de Investigación: Materiales Estructurales Avanzados y Nanomateriales
  • Departamento: Ciencia de Materiales
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de tecnología Biomédica CTB
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