Descripción
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Relacionado con línea de investigación de Sensores y Detectores de Uv y Transistores HEMT | |
Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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IEEE T ELECTRON DEV |
ISSN
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0741-3106 |
Factor de impacto JCR
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2,165 |
Información de impacto
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Volumen
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DOI
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Número de revista
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0 |
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