Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
M. NIEBELSCHÜTZ, V. CIMALLA, O. AMBACHER, T. MACHLEIDT, K.H. FRANKE, J. RISTIC, J. GRANDAL, M.A. SÁNCHEZ-GARCÍA, E. CALLEJA "Electrical characterization of Group III-Nitride nanocolumns with Scanning Force Microscopy" Modern Research and Educational Topics in Microscopy, Nº3, Eds. A. Méndez-Vilas, J. Díaz. Formatex, 560-567 (2007) ISSN: 0370-1972
Year:2007
Research Areas
  • Electronics engineering
Information
Abstract
Relacionado con la línea de investigación de Nanoestructuras de nitruros
International
Si
JCR
No
Title
AModern Research and Educational Topics in Microscopy,
ISBN
0370-1972
Impact factor JCR
0
Impact info
Volume
Journal number
3
From page
560
To page
567
Month
SIN MES
Ranking
Participants
  • Autor: J. RISTIC
  • Autor: V. CIMALLA
  • Autor: T. MACHLEIDT
  • Autor: Javier Grandal Quintana (UPM)
  • Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
  • Autor: K.H. FRANKE
  • Autor: M. NIEBELSCHÜTZ
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: O. AMBACHER
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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