Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Communications at congresses:
Medida simultánea del pretilt y el espesor en pantallas VAN
Year:2007
Research Areas
  • Electronics engineering,
  • Electronic circuits,
  • Electronic devices
Information
Abstract
En este artículo se describe una técnica de medida en banco óptico, que permite caracterizar el ángulo de pretilt células transmisivas de alineamiento vertical, simultaneando la medida con la caracterización del espesor. Se describe además de la técnica de medida el modelo empleado para la validación de los resultados.
International
No
Congress
Actas V Reunión Esp. Optoeléctrónica OPTOEL2007
960
Place
Barakaldo (Vizcaya)
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
978-84-95809-30-8
Start Date
11/07/2007
End Date
13/07/2007
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Participants
  • Participante: David Pérez Medialdea (Universidad Politécnica de Madrid)
  • Autor: Morten Andreas Geday (UPM)
  • Autor: Patxi Xabier Quintana Arregui (UPM)
  • Participante: Beatriz Cerrolaza Martínez (Universidad Politécnica de Madrid)
  • Autor: Jose Manuel Oton Sanchez (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Fotónica Aplicada
  • Departamento: Tecnología Fotónica
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