Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Medida simultánea del pretilt y el espesor en pantallas VAN
Año:2007

Áreas de investigación
  • Industria electrónica,
  • Circuitos electrónicos,
  • Dispositivos electrónicos

Datos
Descripción
En este artículo se describe una técnica de medida en banco óptico, que permite caracterizar el ángulo de pretilt células transmisivas de alineamiento vertical, simultaneando la medida con la caracterización del espesor. Se describe además de la técnica de medida el modelo empleado para la validación de los resultados.
Internacional
No
Nombre congreso
Actas V Reunión Esp. Optoeléctrónica OPTOEL2007
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Barakaldo (Vizcaya)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-84-95809-30-8
DOI
Fecha inicio congreso
11/07/2007
Fecha fin congreso
13/07/2007
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Título de las actas

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Fotónica Aplicada
  • Departamento: Tecnología Fotónica