Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
J. M. ULLOA, P. M. KOENRAAD, E. GAPIHAN, A. LÉTOUBLON, N. BERTRU. "Double capping of MBE grown InAs/InP quantum dots studied by cross-sectional scanning tunneling microscopy" Applied Physics Letters, 91, 073106-073109 (2007) ISSN: 0003-6951
Year:2007
Research Areas
  • Electronics engineering
Information
Abstract
Relacionado con la línea de actividad de Detectores cuánticos de IR/VIS, Crecimiento epitaxial de nitruros del grupo III, Detectores cuánticos de IR/VIS, Nanoestructuras de Nitruros
International
Si
JCR
Si
Title
APPL PHYS LETT
ISBN
0003-6951
Impact factor JCR
3,596
Impact info
Volume
Journal number
91
From page
073106
To page
073109
Month
SIN MES
Ranking
Participants
  • Autor: A. LETOUBLON
  • Autor: N. BERTRU
  • Autor: Jose Maria Ulloa Herrero (UPM)
  • Autor: P.M. KOENRAAD
  • Autor: E. GAPIHAN
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
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