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Descripción
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| Relacionado con línea de investigación de sensores, transistores, detectores, microsistemas opticos y nanoestructuras | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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Microscopy of Semiconducting Materials XV Cambridge (UK) 2 al 5 de abril de 2007 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Cambridge (UK) |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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DOI
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Fecha inicio congreso
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02/04/2007 |
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Fecha fin congreso
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05/04/2007 |
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Desde la página
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Título de las actas
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