Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Communications at congresses:
J. M. Ulloa, C. Çelebi, P. Offermans, P.M. Koenraad, A. Simon, E. Gapihan, A. Letoublon, N. Bertru, I. Drouzas, D.J. Mowbray, M.J. Steer, M. Hopkinson "Capping of InAs quantum dots studied at the atomic scale by cross-sectional scanning tunneling microscopy" Microscopy of Semiconducting Materials XV Cambridge (UK) 2 al 5 de abril de 2007
Year:2007
Research Areas
  • Electronics engineering
Information
Abstract
Relacionado con línea de investigación de sensores, transistores, detectores, microsistemas opticos y nanoestructuras
International
Si
Congress
Microscopy of Semiconducting Materials XV Cambridge (UK) 2 al 5 de abril de 2007
960
Place
Cambridge (UK)
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
Start Date
02/04/2007
End Date
05/04/2007
From page
To page
Participants
  • Autor: P. Offermans
  • Autor: Jose Maria Ulloa Herrero (UPM)
  • Autor: C. Çelebi
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
S2i 2020 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)