Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
D. PASTOR, J. IBAÑEZ, R. CUSCO, L. ARTUS, G. GONZALEZ-DIAZ, E.CALLEJA "Crystal damage assessment of Be+-implanted GaN by UV Raman scattering" Semiconductor. Sci. Technology, 22, 70 (2007)
Año:2007
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Relacionado con linea de actividad de nanoestructuras de nitruros y crecimient epitaxial de nitruros
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
SEMICOND SCI TECH
ISSN
1361-6641
Factor de impacto JCR
1,899
Información de impacto
Volumen
22
DOI
Número de revista
0
Desde la página
70
Hasta la página
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: D. PASTOR
  • Autor: R. CUSCO
  • Autor: J. IBAÑEZ
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: G. GONZALEZ-DIAZ
  • Autor: L. ARTUS
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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