Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
D. PASTOR, J. IBAÑEZ, R. CUSCO, L. ARTUS, G. GONZALEZ-DIAZ, E.CALLEJA "Crystal damage assessment of Be+-implanted GaN by UV Raman scattering" Semiconductor. Sci. Technology, 22, 70 (2007)
Year:2007
Research Areas
  • Electronics engineering
Information
Abstract
Relacionado con linea de actividad de nanoestructuras de nitruros y crecimient epitaxial de nitruros
International
Si
JCR
Si
Title
SEMICOND SCI TECH
ISBN
1361-6641
Impact factor JCR
1,899
Impact info
Volume
22
Journal number
0
From page
70
To page
Month
SIN MES
Ranking
Participants
  • Autor: D. PASTOR
  • Autor: R. CUSCO
  • Autor: J. IBAÑEZ
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: G. GONZALEZ-DIAZ
  • Autor: L. ARTUS
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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