Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Band bending at In-rich InGaN surfaces
Año:2008

Áreas de investigación
  • Industria electrónica

Datos
Descripción
Relacionado con las lineas de investigacion del Grupo
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
ISSN
0021-8979
Factor de impacto JCR
2,171
Información de impacto
Volumen
104
DOI
Número de revista
0
Desde la página
113716
Hasta la página
113716-6
Mes
ENERO
Ranking

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Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica